凱特DeltascopeFMP30測(cè)厚儀器致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，其探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，解決此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所使用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。測(cè)試不同波長(zhǎng)下的光源強(qiáng)度，確保在整個(gè)光譜范圍內(nèi)保持一致恢復(fù)出廠設(shè)置：根據(jù)用戶手冊(cè)，小心地執(zhí)行恢復(fù)出廠設(shè)置，但記得事先保存重要數(shù)據(jù)遵循所有制造商的安全指導(dǎo)，避免未經(jīng)許可的修改或修理，以免損害儀器或喪失保修資格

凱特DeltascopeFMP30測(cè)厚儀器維修常見(jiàn)故障技巧
1.電池電量不足
儀器五天以上不使用時(shí)，就應(yīng)該取下電池。儀器若出現(xiàn)低電壓提示時(shí)，就需要及時(shí)更換電池，保證儀器的使用性能。
2.恢復(fù)出廠設(shè)置
當(dāng)操作有誤不知如果修正時(shí)，就可以根據(jù)涂層測(cè)厚儀的使用說(shuō)明書(shū)，進(jìn)行恢復(fù)出廠設(shè)置。不同品牌的涂層測(cè)厚儀恢復(fù)出廠設(shè)置的步驟各不相同，以具體的操作說(shuō)明書(shū)為準(zhǔn)。
3.測(cè)量頭校準(zhǔn)修正
如果儀器測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差時(shí)，就可以按照多點(diǎn)修正的方法，重新校準(zhǔn)儀器。
克斯膜厚儀使用時(shí)需要注意的問(wèn)題：
邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
表面清潔度：測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
凱特DeltascopeFMP30測(cè)厚儀器4. 膜厚測(cè)試儀軟件更新檢查是否有可用的軟件更新，有時(shí)候新版本包含了修復(fù)已知問(wèn)題的補(bǔ)丁特別是對(duì)于高壓電路部分，處理不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的人身傷害確保它在一個(gè)穩(wěn)定、適宜的工作環(huán)境中掃頻儀可以測(cè)試寬頻帶放大器除用上述方法擦試外，也可將它放在考貝紙上，擦拭(考貝紙先用混合液稍微濕潤(rùn))

膜厚測(cè)試儀儀常見(jiàn)故障的分析排查方法 （1）故障表現(xiàn)3. 膜厚測(cè)試儀內(nèi)部電源電池或穩(wěn)壓器：檢查內(nèi)置電池是否耗盡或故障，特別是對(duì)于便攜型設(shè)備傳感器清潔：清潔傳感器上的沉積物，有時(shí)簡(jiǎn)單的擦拭即可恢復(fù)正常功能4. 膜厚測(cè)試儀主動(dòng)測(cè)量?jī)x重復(fù)性檢查測(cè)量同一對(duì)象多次，對(duì)比結(jié)果一致性，評(píng)估波動(dòng)幅度測(cè)量ADC芯片H10_A上的四組輸入端對(duì)地電阻，電阻值都為59.X歐姆，說(shuō)明芯片不一定是壞的
3、分子泵故障燈亮 檢查電路板設(shè)置開(kāi)關(guān)是否處于R位置，此時(shí)應(yīng)該在N位置以上是關(guān)于超聲波探傷儀維修的介紹，希望對(duì)您有所幫助，一旦出現(xiàn)故障，是**要進(jìn)行超聲波探傷儀維修的，當(dāng)然超聲波探傷儀與其它的探測(cè)儀相比，超聲波的探測(cè)儀能夠在短時(shí)間內(nèi)完成作業(yè)，而且它在使用的時(shí)候比較的簡(jiǎn)單，精度和靈敏度也是同類產(chǎn)品無(wú)法相比的3、適用于張力精度要求不高的場(chǎng)合7. 膜厚測(cè)試儀專業(yè)咨詢當(dāng)問(wèn)題復(fù)雜或不確定時(shí)，Marposs客戶服務(wù)或授權(quán)服務(wù)中心3. 重啟膜厚測(cè)試儀MDM300關(guān)閉設(shè)備，等待幾分鐘后再重新開(kāi)啟，有時(shí)候短暫的系統(tǒng)重啟就能解決問(wèn)題
探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。
使用干凈的鏡頭布輕輕擦拭不穩(wěn)定的氣流會(huì)影響露點(diǎn)讀數(shù)進(jìn)行任何內(nèi)部電路檢查時(shí)，請(qǐng)確保設(shè)備已斷電，并采取適當(dāng)?shù)陌踩胧╊l譜分析儀的常見(jiàn)故障有哪些：1、電源故障：不能正常開(kāi)機(jī)2、輸入端故障：阻抗異常；無(wú)信號(hào)；信號(hào)幅度異常3、測(cè)試分析故障：頻率、相位測(cè)試異常4、顯示故障：花屏；黑屏5、按鍵故障：按鍵無(wú)反應(yīng)；調(diào)節(jié)旋鈕無(wú)響應(yīng)6、接口故障：不認(rèn)存儲(chǔ)介質(zhì)；不能與控制系統(tǒng)聯(lián)機(jī)7、其他使用問(wèn)題等紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)顯示屏數(shù)字跳動(dòng)不穩(wěn)定如紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)數(shù)字向增大或減少方向不停漂移待工程師檢定報(bào)價(jià)后，若貴司不同意報(bào)價(jià)，我公司不收取任何費(fèi)用，將儀器原封不動(dòng)寄回貴公司這時(shí)如發(fā)現(xiàn)有不正常就從不正常處開(kāi)始深入檢查
凱特DeltascopeFMP30測(cè)厚儀器維修常見(jiàn)故障技巧
傳感器清潔：清潔傳感器上的沉積物，有時(shí)簡(jiǎn)單的擦拭即可恢復(fù)正常功能溫柔地嘗試幾次開(kāi)關(guān)機(jī)動(dòng)作
膜厚測(cè)試儀通訊失敗故障維修服務(wù)中心斯派克(SPECTRO)手持式膜厚測(cè)試儀出現(xiàn)通訊失敗的問(wèn)題，通常與連接問(wèn)題、軟件配置或硬件故障有關(guān)執(zhí)行自檢程序，檢查設(shè)備內(nèi)部硬件狀態(tài)10. 膜厚測(cè)試儀主動(dòng)測(cè)量?jī)x專業(yè)維修如果上述步驟都無(wú)法解決問(wèn)題，考慮MARPOSS的 ③檢查氘燈絲(一般為0.)，看是否松動(dòng)、氧化、燒斷，如有故障，立即更換; ④開(kāi)機(jī)重新自檢; ⑤重新安裝軟件后再進(jìn)行自檢 教學(xué)儀器的電氣強(qiáng)度一般在500V以上時(shí)1分鐘不擊穿
4)檢查待測(cè)物是否有信號(hào)產(chǎn)生(可將有信號(hào)產(chǎn)生的通道與有問(wèn)題的通道接在一起來(lái)確定問(wèn)題所在)6. 膜厚測(cè)試儀外圍設(shè)備USB設(shè)備：移除所有外接USB設(shè)備，以防它們?cè)斐啥搪坊蚱渌麊?wèn)題2. 測(cè)量膜厚測(cè)試儀探頭與傳感器清潔探頭：使用溫和的清洗劑和干凈的布料清潔測(cè)量探頭，去除油脂和其他殘留物必須引起注意CH1 50Ω阻抗正常 1MΩ100mV（含）以上阻抗80k

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